科研项目

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项目编号 项目名称 项目来源 起讫时间 承担角色 项目类别
HXDSH20230080 面向人工智能和高性能计算的领域定制架构处理器系统研究 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2023-01~2024-12 负责人 横向项目
202208106 存算一体架构和工具链算法研究项目 华为技术有限公司 2022-08~2023-08 负责人 横向项目
20211048 敏捷硬件开发方法研究和工程实践高校合作项目 华为技术有限公司 2021-10~2022-10 负责人 横向项目
2021GXLH-Z-081 基于边缘计算的智慧交管平台研发与建设 陕西省重点研发计划 2021-07~2023-07 负责人 纵向项目
20200970 DSP高性能计算单元研究与开发 中国电子科技集团公司第五十八研究所 2020-09~2021-09 负责人 横向项目
2020JM-006 采用深度学习和传统编码器的混合分层图像压缩技术研究 陕西省自然科学基础研究计划 2020-01~2021-12 负责人 纵向项目
20200539 基于深度学习的图像视频压缩框架算法设计 腾讯公司 2020-01~2021-01 负责人 横向项目
20190128 基于深度学习和下一代H.266标准的图像和视频编码研究 腾讯公司 2019-01~2020-01 负责人 横向项目
JSGG20180712103402058 重2018N004高性能视觉感知智能处理芯片关键技术研发 大疆创新与深圳科创委 2018-01~2022-08 负责人 纵向项目
20180174 基于RISC-V非标准扩展指令集的DSP设计、实现及验证 其他 2018-01~2019-12 负责人 横向项目
20150624 基于深度学习的目标跟踪系统的研发 其他 2015-6~ 负责人 横向项目
61474093 一种低功耗高压缩率测试图形生成方法的实现与应用研究 其他 2015-01~2050-12 负责人 纵向项目
61006033 基于NoC的同构多核SoC并发在线测试研究 国家自然科学基金项目 2011-1~2013-12 负责人 纵向项目
xjj20100053 基于 NoC 的同构多核SoC 并发在线测试研究 其他 2010-9~2012-8 负责人 纵向项目
20150624 高速总线研制 国家攻关项目 2010-1~2012-1 骨干成员 横向项目
2085064 嵌入式ADC集成芯片研制 其他 2008-1~2011-1 骨干成员 横向项目

奖项

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奖项名称 获奖年份 奖项类型 奖项等级 申报部门
第十二届优秀教材奖 2011 其他 二等奖
VLSI测试和可测性设计方法学的建立与发展 2011 省部级科技成果奖 三等奖 陕西省政府
VLSI测试和可测性设计方法学的建立与发展 2010 局厅级科技成果奖 二等奖 陕西省教育厅
中国第六届研究生电子设计竞赛团体优胜奖 2007 其他 其他 中国电子学会
第十届优秀教材奖 2007 其他 二等奖

论文期刊

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论文标题 作者 发表/完成日期 期刊名称
A Weight Mapping Strategy for More Fully Exploiting Data in CIM-Based CNN Accelerator 王尚,梁峰 2023-11-24 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
Learned Image Compression with Gaussian-Laplacian-Logistic Mixture Model and Concatenated Residual Modules 付海生,梁峰 2023-04-03 IEEE Transactions on Image Processing
Asymmetric Learned Image Compression with Multi-Scale Residual Block, Importance Scaling, and Post-Quantization Filtering 付海生,梁峰 2023-01-17 IEEE Transactions on Circuits and Systems for Video Technology
Learned Image Compression with Generalized Octave Convolution and Cross-Resolution Parameter Estimation 付海生,梁峰 2023-01-01 Signal Processing
High Dimensional Bayesian Optimization for Analog Integrated Circuit Sizing Based on Dropout and gm/ID Methodology Chen Chen; Hongyi Wang; Xinyue Song; Feng Liang; Kaikai Wu; Tao Tao 2022-01-31 IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
一种低延时的浮点正弦余弦函数硬件实现算法 梁峰,刘春锐,李孝聪,邱广波,张继,陈振娇,李薇敏,曹琪,雷绍充 2021-11-01
An extended context-based entropy hybrid modeling for image compression 付海生,梁峰,雷博,张倩 2021-07-12 Signal Processing: Image Communication
面向RISC-V指令集架构处理器的代码压缩技术 程战涛,梁峰,张国和 2021-06-01 微电子学与计算机
基于遗传进化策略的处理器验证方案 杨凯峰,张雪倩,冯娇,梁峰 2021-05-01 微电子学与计算机
一种高吞吐率的高效视频编码熵编码并行VLSI架构设计 周小朋; 梁峰; 李冰; 2020-07-01 学报
An extended hybrid image compression based on soft-to-hard quantification Haisheng Fu,Feng Liang,Bo Lei 2020-05-18 IEEE Access
Improved hybrid layered image compression using deep learning and traditional codecs Haisheng Fu,Feng Liang,Bo Lei,Nai Bian,QianZhanga 2020-03-18 Signal Processing: Image Communication
Test Patterns of Multiple SIC Vectors: Theory and Application in BIST Schemes Feng Liang,Luwen Zhang,Shaochong Lei,Guohe Zhang*,Kaile Gao,Bin Liang 2013-04-01 IEEE Transactions on very Large Scale Integradion (VLSI) Systems
A Subthreshold Swing Model for Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Metal–Oxide–Semiconductor Field Effect Transistors with Vertical Gaussian Profile Guohe Zhang,Kebin Chen,Xue Zheng,Feng Liang*,Zunchao Li 2013-01-03 Japanese Journal of Applied Physics
A Subthreshold Current Model of Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Metal–Oxide–Semiconductor Field Effect Transistors with Vertical Gaussian Profile Guohe Zhang,Kebin Chen,Feng Liang* 2012-02-01 Japanese Journal of Applied Physics
A novel Single Event Upset hardened CMOS SRAM cell Guohe Zhang, Jun Shao, Feng Liang*, Dongxuan Bao 2012-02-01 IEICE Electronics Express
A test pattern generation method with high compression ratio Liang, Feng; Zhang, Luwen; Lei, Shaochong 2011-11-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A low cost test pattern generator for test-per-clock BIST scheme Lei, Shaochong; Wang, Zhen; Liu, Zeye; Liang, Feng* 2010-10-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A unified solution to reduce test power and test volume for Test-per-scan schemes Lei, Shaochong; Wang, Zhen; Liu, Zeye; Liang, Feng* 2010-07-01 IEICE ELECTRONICS EXPRESS
A Low Power Test Pattern Generator for BIST Lei, Shaochong; Liang, Feng*; Liu, Zeye;Wang, Xiaoying 2010-05-01 IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS