• 薄膜断层分析技术及科研仪器的开发

由于高分子结构的多分散性、成膜过程中晶态与非晶态并存，以及薄膜内部与界面处的不同环境，使得高分子薄膜在微观结构与性能上也是多分散的。已有的分析方法如3DTEM、二次离子质谱、中子反射、椭圆偏振光谱、同步辐射X射线散射等，只能测试薄膜中元素、相区位置、微晶尺寸等形态结构的分布信息，缺乏微尺度光电性能的测试手段，且设备大多价格昂贵或被国外垄断。利用低气压辉光放电软等离子体选择性刻蚀薄膜表面，结合吸收光谱、XRD、TEM、XPS可获得薄膜断层的吸收光谱、X光衍射、电子显微图、电子结合能等信息，从而不仅可以给出薄膜的三维组分分布图，还可以给出三维光电场分布图、三维形貌图等。薄膜断层分析技术及设备的开发，不仅增加了结构与性能关系在薄膜断层光电输运方面的内容，同时也丰富了高分子物理学科的内涵。

• 高效分子半导体材料的设计合成与光电性能表征

分子半导体由于具有优异的光电性能，以及柔性、轻薄、可溶液加工等性质，而被学术界和工业界认为可应用于太阳电池、晶体管、可穿戴设备等电子器件。其器件性能与其分子结构、聚集态结构及其在器件中的排列和分布都有着密切关系，我们通过调控这些结构和排布来提高其器件性能。

• 基于分子半导体的功能墨水制备与应用

廉价的溶液加工如喷涂、打印，是分子半导体相对于无机半导体的优势之一。如何制备具有特定结构的高性能分子半导体溶液，即功能墨水，是其将来工业化生产必不可少的技术壁垒之一。